使用Galaxy TA Plus全功能国产质构仪对蛋糕硬度进行测试的方法

发布时间:2017/12/28 9:42:00

使用Galaxy TA Plus全功能国产质构仪对蛋糕硬度进行测试的方法

样品:蛋糕
仪器:Galaxy TA Plus全功能国产质构仪
测试模式:穿刺测试
测试前速度:3.0mm/s
测试速度:1.7mm/s
测试后速度:10.0mm/s
穿刺深度:6mm
触发模式:20g
去皮模式:自动
探头:针形探头
感应元:5KG优质高感应元

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   中锦仪器为Galaxy TA Plus 量身打造探头与夹具。除了标准探头与夹具,中锦仪器可为客户量身定制的特殊应用方案需要的探头与夹具。迄今为止,中锦仪器储备有超过400种的特殊应用方案的配套探头,基本涵盖各行各业的使用需求。

   探头有不锈钢、铁氟龙、亚克力、塑料等各种材质,有柱形、球形、锥形、压板等各种形状,测试探头有400种以上(根据样品及实验内容选择合适探头),探头可以和市面上主流仪器通用,也可以按客户要求定制。