X射线镀层测厚仪

发布时间:2018/4/12 10:20:00

Thick 8000 .jpg

Thick 8000 X射线镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

天瑞仪器是国内X射线镀层测厚仪生产厂家,分析仪器上市企业。

 

性能优势

 

精密的三维移动平台
卓越的样品观测系统
先进的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器,自动切换
双重保护措施,实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试
全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样 
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示测试结果

 

技术指标

 

分析元素范围:从硫(S)到铀(U) 
同时检测元素:*多24个元素,多达五层镀层
检出限:可达2ppm,*薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%
稳定性:可达0.1%
SDD探测器:分辨率低至135eV
采用先进的微孔准直技术,*小孔径达0.1mm,*小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位 :小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度 15℃~30℃

 

测试实例

 

在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素,大大提高测试稳定性、降低检测限。

Thick 8000检测谱图

某国外仪器检测谱图

11次测量结果(Au-Cu)的稳定性数据对比如下:

 

次数

Thick8000

行业内其他仪器

1

0.042

0.0481

2

0.043

0.0459

3

0.043

0.0461

4

0.0412

0.0432

5

0.0429

0.0458

6

0.0436

0.0458

7

0.0427

0.0483

8

0.0425

0.045

9

0.0416

0.0455

10

0.0432

0.0485

11

0.0422

0.043

平均值

0.0425

0.0459

标准偏差

0.0007

0.0019

相对标准偏差

1.70%

4.03%

极差

0.0024

0.0055

 


厂家介绍
目前,公司产品涵盖X荧光光谱仪,rohs无铅检测仪,ROHS卤素测试仪,XRF光谱仪,X-RAY荧光光谱仪,
合金分析仪,无卤检测仪,检测ROHS设备,ELV测试仪,加州65测试仪,玩具行业环保测试仪,rohs2.0测试仪器等。十年磨一剑,面对日益成熟的ROHS环保市场,天瑞仪器以“科研开发”为基础,以“质量服务”为,主打“自主品牌”,不断经营图强。?江苏天瑞仪器继承了超过二十年环保仪器的研发生产经验,技术达到国内外业界水平,是从事X射线环保检测仪器行业的生产厂家、天瑞rohs无铅检测仪集研发、设计、生产和销售为一体的高科技企业。