金属材料成分分析仪

发布时间:2018/3/27 11:11:00

金属材料成分分析仪介绍

金属材料成分分析仪可以用于合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)

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EDX 4500H金属材料成分分析仪—— X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。 
该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行准确分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。 
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

 

技术参数

 

产品型号:EDX 4500H
产品名称:X荧光光谱仪 
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同) 
同时分析元素:性可测几十种元素 
测量时间:30秒-200秒 
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV 
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃ 
环境湿度:35%-70%
样品腔体积:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg

 

标准配置

 

高效超薄窗X光管 
SDD硅漂移探测器 
数字多道技术
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
内置高清晰摄像头 
自动切换型准直器和滤光片 
自动稳谱装置 
三重安全保护模式 
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

 

性能特点

 

高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平 
较新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比 
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好 
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围 
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元 
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐 
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头 
金属材料成分分析仪液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然