EDX6000B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内ROHS行业,水泥厂、钢铁公司、粉末冶金企业等对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性；利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
X射线荧光光谱仪性能特点
的水泥、钢铁、矿料、粉末冶金、磁性材料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

EDX6000B 是天瑞仪器研发的一款仪器，专门针对于水泥行业，矿产行业等研发出来的，内置自动移动转盘，可同时测试多个样品，操作简单方便

性能特点

的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器。
抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

技术指标

元素分析范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：ppm—99.99%(不同材质，分析范围不同)
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
检测限：RoHS指令规定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限达ppm级
测量镀层：镀层厚度测量最薄至0.005微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60秒—200秒
工作温度:15℃—30℃
工作湿度：≤70%