X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。近年来X荧光光谱仪在各个行业领域中不断拓展，已经为广泛应用于治金、地质、环保、建材等领域中。

X荧光光谱仪的优缺点： 1、优点a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没关系（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。e) 分析精密度高。f) 制样简单，固体、粉末、液体等都可以进行分析。

元素分析范围从硫（S）到铀（U）。
分析含量一般为0.1ppm到99.9％。
有害元素检出限比普通的台式X荧光光谱仪有极大的提高。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源：交流220V±5V。建议配置交流净化稳压电源。

标准配置

超锐X光源和样品激发机构。
上盖电动开关的大容量样品腔。
可自动切换的准直器，滤光片。
高清晰CCD摄像头。
SDD探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
计算机及喷墨打印机。
X荧光分析软件
外观尺寸： 700(W) ×580(L) ×435(H)mm
样品腔尺寸：350(W) ×353(L) ×93(H)mm
重量：90kg