X荧光光谱仪_ROHS检测仪

发布时间:2018/10/6 12:16:00

天瑞X荧光光谱仪(XRF)是一种较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。
波长色散型X荧光光谱仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和探测器作同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度。可以据此进行定性分析和定量分析。波长色散型X射线荧光谱仪产生于上世纪50年代,由于可以对复杂体系进行多组分同时测定,受到关注,特别在地质部门,先后配置这种仪器,分析速度显著提高,起了重要作用。

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江苏天瑞仪器股份有限公司(Jiangsu Skyray Instrument Company Limited sz:300165)成立于1992年,是的分析仪研发、生产、销售一体型企业。公司拥有国际一流的技术领域的队伍,具有雄厚的资金势力、的技术水平、一流服务标准和先进的管理模式。同时,公司与国内外相关领域的研究院所和企业保持着密切的合作关系,实时追踪国际X荧光分析领域最前沿的理论和技术。

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性能优势

快—1秒钟出结果
采用行业的极速探测器技术——(SDD)分辨率至125eV
优势:探测面积大(面积达25mm2)、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好,探测效率更高,探测信噪比更强,检出限更低
采用行业的数字多道技术
优势:有效提高输出效率,实现超高计数率,保证采集有效计数率可达600KCPS
采用大功率X光管及先进的准直滤光系统
优势:激发效率更高
光闸系统
优势:样品更换无需关闭高压,提高测试效率与测试
精密的定位系统
超高清晰工业摄像头,更清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制,多点连续测试
超小样品检测——可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能,可根据不同样品进行选择
准直器可达0.2毫米,针对超小样品可准确聚焦检测
人性化的设计
更安全:X射线联动安全装置——光闸与联动装置互动;仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷:多点测试,点哪测哪
预约预热:根据设定时间,仪器可定时开始测试
预约开机预热功能:客户可预约仪器开机时间,同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态;同时可以实现预约关机,
关机前可设定声光提示

技术参数

测量元素范围 :硫(S)~铀(U)
测量时间:1s或以上
检出限:分析检出限可达2ppm,最薄可测试0.005μm
含量范围:2ppm~99.9%
管压:5~50KV
管流:≤1000uA
探测器:SDD探测器,分辨率可达125eV
准直器:8种准直器自动切换
滤光片:4种滤光片自由切换
样品观察:高清工业摄像头
环境湿度:≤70%
环境温度:15℃~30℃
电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)