CMOS平板探测器在X-Ray全自动盘料点数机的应用

发布时间:2017/11/7 14:00:00

基于CMOS平板探测器的X-Ray全自动盘料点数机应用

一、基于X-Ray的盘料点数机和传统点料机区别

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传统的点料方法:


1. 原理:

传统的盘装电子物料点数方法是将料盘上封装的物料一端拉出,连接到带有收料盘的装置上,经过不同方式的传感器,通过对封装物料相邻间差异的识别实现物料个体封装的识别和计数,从而实现物料点数工作。


2. 局限性:


1)此种方式点数周期长,若提高收料装置的牵引速度,可以一定程度上提高效率,但对物料包装的要求较高,以确保料带能够承受较大的拉力,物料的包装成本需要提高,所以由于牵引速度的限制,制约了点料速度的提高;

2)若封装空间里没有物料,此种方法会出现误判,从而影响点数度。


X-Ray点料方法:

利用X光大角度透视的原理,得到盘料的X-Ray图像,通过软件分析,得到计数结果,相比传统的点料方式,大大的提高了工作效率,节约人工成本。

图片2.jpg原理示意图

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物料料盘 

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X射线图像和软件分析结果


二、先锋科技可以提供的产品

 

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