x荧光合金分析仪

发布时间:2017/7/7 11:53:00

x荧光合金分析仪


产品说明、技术参数及配置

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。

该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。

另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。


性能特点

高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平

的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,更高。在合金检测中效果更好

SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比

低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好

智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围

自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性

高信噪比的电子线路单元

针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐

解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析

多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

内置高清晰摄像头

液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然


技术参数

测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)

元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)

同时分析元素:性可测几十种元素

测量时间:30秒-200秒

探测器能量分辨率为:145±5eV

管压:5KV-50KV

管流:50μA-1000μA

测量对象状态:粉末、固体、液体

输入电压:AC 110V/220V

环境温度:15℃-30℃

环境湿度:35%-70%

样品腔体积:320mm×100mm

外形尺寸:660mm×510mm×350mm

重量:65Kg


标准配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探测器

数字多道技术

光路增强系统

高信噪比电子线路单元

内置高清晰摄像头

自动切换型准直器和滤光片

自动稳谱装置

三重安全保护模式

可靠的整体钢架结构

90mm×70mm的状态显示液晶屏

真空泵


应用领域

合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)