X荧光光谱仪的区分

优点:

1、分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。

3、非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。

4、X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

5、分析精密度高。

6、制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

缺点：

1、难于作分析，故定量分析需要标样。

2、对轻元素的灵敏度要低一些。

3、容易受相互元素干扰和叠加峰影响。

X荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。