镀层无损分析XRF测厚仪

发布时间:2023/4/19 14:42:00

EDX600PLUS优势和特点

*超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面

*易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果

*有助于识别镀层成分的创新型功能

*机身结构小巧结实,外形分漂亮,适合放置于陈列展室

*按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件镀层厚度的精确结果

*使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

*用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心

*Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络,检测结果易于查看和分享

*有X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠的保证客户使用

测试样品示例

铁镀铬

铜镀镍镀金     铁镀锌镍合金

-您的期望,我们的未来-

镀层分析好伙伴,您的材料识别好助手


  

 

Thick系列

仪器应用演示

-您的期望,我们的未来-

镀层分析好伙伴,您的材料识别好助手

 

 

 

                             

 

 

 

 

1、在软件中点击“开始”按钮,测量完成,显示分析结果

 

 

 

                                                                                   

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

                  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

                      


 

 

Thick系列

Thick 800台式XRF镀层分析仪

硬件性能及优势

超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超

人性化界面

仪器性能

元素分析范围从硫(S)到铀(U)

同时可以分析几十种以上元素,五层镀层

分析检出限可达2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品

分析含量一般为ppm到99.9%  。

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

多次测量重复性可达0.1%

长期工作稳定性可达0.1%

度适应范围为15℃至30℃。

仪器配置

高压电源    0 ~ 50KV

光管管流    0μA ~ 1000μA

摄像头

滤光片 可选择多种定制切换

探测器 美国进口探测器

多道分析器  ELEMENT INSTRUMENT-DMCP

样品腔尺寸  310*280*60(mm)

测试时间 10sec   ~ 100sec

仪器环境要求

环境温度   15°C ~ 30°C

相对湿度   35% ~ 70%

电源要求   AC 220V±5V, 50/60HZ

分析软件   ELEMENT INSTRUMENT-FP定性定量分析软件

外部尺寸   380*372*362(mm)

重量   29Kg