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x射线测镀层测厚仪
发布时间:2021/9/1 15:24:00
镀层测厚仪THICK800A满足不同厚度样品和表面不均匀性样品的检测;
直径0.1mm,可满足微细测点要求的小孔准直仪;
移动式平台定位试验,重复定位精度小于0.005毫米;
激光高度定位,自动确定探测高度;
利用定位激光测量定位光斑
鼠标控制移动平台,鼠标点击被测位置;
探测器分辨率高
遮蔽效果好;
高度敏感传感器保护;
过程性能指标
模式:Thick800A;镀层厚度分析器。
能同时分析30多种元素,五层镀层;
2ppm范围内检测,0.005μm范围内检测;
检测含量一般在ppm到99.9%之间;
涂料厚度通常为50微米(每种材料不一样);
可供选择的分析和识别模式;
荧光x射线镀层测厚仪与基体效应无关的修正模型;
多重非线性复原方案;
重复性检测率可达0.1%;
在15℃-30℃范围内;
电源:交流220V±5V电压,建议用交流稳压净化电源供电;
外型尺寸:576(W)×495(D)×545(H)毫米;
样品盒尺寸:500(W)×350(D)×140(H)毫米;
重量:九十公斤;
标准配置
开放式实验室;
二维精密移动采样平台,探测器和X光管上下移动,实现三维移动;
双激光定位器;
玻璃罩,铅;
西-潘探测器
信号检测电路;
高低压电源;
X射线;
高度传感器;
保护感应器;
计算机及喷墨打印机;
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