x射线测镀层测厚仪

发布时间:2021/9/1 15:24:00

镀层测厚仪THICK800A满足不同厚度样品和表面不均匀性样品的检测;

直径0.1mm,可满足微细测点要求的小孔准直仪;

移动式平台定位试验,重复定位精度小于0.005毫米;


激光高度定位,自动确定探测高度;

利用定位激光测量定位光斑

鼠标控制移动平台,鼠标点击被测位置;

探测器分辨率高

遮蔽效果好;

高度敏感传感器保护;

过程性能指标

模式:Thick800A;镀层厚度分析器。

能同时分析30多种元素,五层镀层;

2ppm范围内检测,0.005μm范围内检测;

检测含量一般在ppm到99.9%之间;

涂料厚度通常为50微米(每种材料不一样);

可供选择的分析和识别模式;

荧光x射线镀层测厚仪与基体效应无关的修正模型;

多重非线性复原方案;

重复性检测率可达0.1%;

在15℃-30℃范围内;

电源:交流220V±5V电压,建议用交流稳压净化电源供电;

外型尺寸:576(W)×495(D)×545(H)毫米;

样品盒尺寸:500(W)×350(D)×140(H)毫米;

重量:九十公斤;

标准配置

开放式实验室;


二维精密移动采样平台,探测器和X光管上下移动,实现三维移动;

双激光定位器;

玻璃罩,铅;

西-潘探测器

信号检测电路;

高低压电源;

X射线;

高度传感器;

保护感应器;

计算机及喷墨打印机;