X射线荧光镀层分析仪THICK800A

X射线荧光镀层分析仪hick800a是天瑞公司多年研发的款电镀工业用rel="nofollow" 仪器，它可以全自动软件操作，可以多点测试，可以软件控制仪器的测点，也可以移动平台。本仪器功能强大，配上门为其开发的软件，在镀层业中可谓大展拳脚，产品在高压开关，表面处理，电子连接器，精密五金等行业得到了广泛的应用和认可。工作特性。萤光镀膜分析仪能满足各种厚度样品和不规则表面样品的检测要求。直径为0.1mm的小孔准直仪能够满足微小测试点的要求。高度在0.005毫米以下的移动平台定位试验，重复定位试验。利用高度定位激光，可以对测试高度进行自动定位。用定位激光器定位光斑，确保测试点与光斑致。滑鼠控制移动平台，滑鼠点击的位置即为被测点。高分辨探针使分析结果更精确。光线屏蔽效果好；
高灵敏度试验传感器保护装置。技术性指标模型：Thick800A。从硫（S）到铀（U）都有元素分析。可同时分析30多种元素，镀有五层。涂层厚度通常在50微米以内（每种材料各不相同）有多种可选的分析与识别模式。互不相关的基体效应修正模型多元非线性回收器。该温度范围为15~30℃。电力供应：交流220V±5V，建议配有交流净化稳定电源。外形尺寸：576（W）×495（D）×545（H）mm。样箱尺寸：500（W）×350（D）×140（H）毫米。体重：90千克。标准化配置开放的试样室。高精度二维移动采样平台，探测器和X光管上下移动实现三维移动。双重激光定位设备。萤光镀膜分析器铅玻璃屏蔽罩。西-潘探测器讯号探测电子电路高、低压电源X-光管高感应器防护传感器电脑和喷墨打印机。适用范围。检验金、铂、银等贵金属和各种饰的含量。测量金属镀层厚度，测定镀液及镀层含量。thick800a型X射线镀膜分析仪主要应用于贵金属及珠宝加工行业、银行、珠宝销售及检测机构、电镀行业。