X射线荧光光谱（XRF），顾名思义，利用了X射线和荧光技术，通过原级X射线照射在待

测样品上，产生的次级X射线（X射线荧光），通过分析荧光的波长和能量对物质进行成

分和化学形态的分析。XRF理论上可以测定元素周期表中所有的元素，但是在实际应用

中，一般有效的元素测量范围为从铍（Be）到铀（U）的90余种元素。X射线荧光光谱仪

（XRF）具有谱线简单、不破坏样品、操作简便、测定迅速等优点，广泛应用于地质、

冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、公安、考古、难融化物和

建材工业等领域。

欧盟RoHS2.0的正式实施在再次将XRF仪器推向风口浪尖，2019年7月22日起，所有输欧

电子电器产品（除医疗和监控设备）均需满足欧盟RoHS2.0限制要求，而其中对限制物

质的快速筛查，大量采用了XRF的方法。

近一年的时间里，天瑞相继推出了一些XRF新品，天瑞仪器公司在电子和金属表面处理行业已有超过40年镀层分析的经验。准确度是

THICK800A镀层测厚仪一个亮点，其将大面积正比计数探测器和微聚焦X射线管相结合

，可实现更好的准确度。THICK800A可选装两种探测器，一种是正比计数器，另一种

是更的硅漂移探测器（SDD）。正比计数器适合于准确、可靠的分析单元素镀层，而SDD

则适合于多元素镀层的分析或者应对未来镀层结构的不断改变。

除此之外，THICK800A镀层测厚仪还具备直观的软件界面、多样的配置选择、简单的

校准流程等优势。可以应用于PCB/PWB表面处理、电力和电子组件的电镀、IC载板、服

务电子制造过程（EMS、ECS）、光伏产品、受限材料和高可靠性筛查、耐腐蚀性检验、

耐磨性检验、耐高温检验等。