天瑞镀层厚度分析仪原理

发布时间:2018/4/8 16:40:00

天瑞仪器X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成:X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统(分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统(脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。不同元素具有波长不同的特征X射线谱,而各谱线的荧光强度又与元素的浓度呈一定关系,测定待测元素特征X射线谱线的波长和强度就可以进行定性和定量分析。本法具有谱线简单、分析速度快、测量元素多、能进行多元素同时分析等优点,是目前大气颗粒物元素分析中广泛应用的三大分析手段之一(其他两方法为中子活化分析和质子荧光分析)。

Thick801A.png天瑞仪器采用X射线聚光系统,适用于微小样品的镀层测量及RoHS分析THICK800A的X射线发生系统是X射线聚光系统(聚光导管)与X射线源相结合,产生束斑直径为Φ0.1mm以下高强度的X射线束,与不采用此技术时相比能得到10倍以上的强度。所以THICK800A可以对以往由于X射线照射强度不足而导致无法得到理想的导线架、接插头、柔性线路板等微小零件及薄膜进行测量。同时,THICK800A采用了高计数率、高分辨率的半导体检测器(无需液氮),在测量镀膜厚度的同时,对于欧盟的RoH&ELV法规所限制的有害元素的分析测量也十分有效。

江苏天瑞仪器股份有限公司是生产ROHS检测仪,气相色谱质谱联用仪,镀层测厚仪,电感耦合等离子体发射光谱仪,ROHS分析仪,X射线镀层测厚仪,气相色谱仪,ROHS测量仪,液相色谱仪,ROHS2.0分析仪,XRF合金分析仪,X荧光光谱仪,汽油中硅含量检测仪, ROHS检测仪器,手持式合金分析仪等,涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A,Thick8000,ICP2060T,GC-MS6800,ICP-MS2000等。


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