QNIX4200涂层测厚仪

发布时间:2017/4/23 13:01:00

尼克斯QNIX4200涂层测厚仪功能特点 ,涂层测厚仪产品介绍:

尼克斯QNIX4200涂层测厚仪是德国QNIX公司推出的一款一体式铁基膜厚仪。体积小巧,携带方便。可以测量铁基上0-3000μm的涂层厚度。无需校准。尼克斯QNIX4200涂层测厚仪是德国QNIX公司推出的一款一体式铁基膜厚仪。体积小巧,携带方便。可以测量铁基上0-3000μm的涂层厚度。无需校准。

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技术参数:

型    号42004500120015007500keyless
基    体FeFe/NFeFeFe/NFeFe、NFe、Fe/NFeFe/NFe
探头形式一体一体、分体无线分体
显    示LCD数字显示
测量范围0-3000μmFe:0-3000μmNFe:0-2000μm 0-2000μm0-5000μm0-2000μm0-5000μm0-5000μm
测量0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%,2000-5000μm≤±3%
显示1μm0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm
工作温度-10 - +60℃
温度补偿0-50℃
存    储1500M型7500M型keylessM型

3900个测量值,999个数据组
数据传输RS232打印、电脑
统计功能平均值、值、值、标准偏差
超限报警上下限
基体10mm×10mm
曲率凸、凹半径:3mm/25mm凸半径:5mm,凹半径:25mm
最薄基体Fe:0.2mm,NFe:0.05mm
电    源5号电池2节9V碱性电池1节5号电池2节
重    量110g130g150g130g
尺    寸110×60×27mm166×64×34mm110×60×24mm110×62×22mm