作用力F和反作用力F1是设备测量的基本原理

发布时间:2015/6/13 16:28:00

 

当测试传感器通过测试工具施加一个测试力F到晶元等焊接物体上的时候,剪切测试传感器同样也会受到一个大小相同但方向相反的反作用力F1。通过电学计量法,即可得到测试力的F的大小。这是测量力的基本原理。

深入一些来讨论,力是和时间与空间有紧密关系的。当施加力的时候,物体之间(测试传感器的测试工具与晶元等焊接物体)有一个相对运动的趋势,FF1的大小同时上升,但方向相反,在FF1的大小还没有能够导致晶元等焊接物体断裂的时候,力的作用点在空间位置上是不会有位移产生,测试传感器和被测试物体在一个位置相对固定的力的作用点上相互挤压。测试传感器则产生与测试力F方向相反的弯曲形变,测试力越大,测试传感器的弯曲形变量越大。一旦被测试的目标物体发生断裂,导致测试传感器弯曲形变的F1消失,测试传感器就会快速回弹从而消除形变;电学测试力的计量就是在这样一个作用力变化的过程中不断连续采集力学数据,以期捕获当作用力F上升到晶元等焊接物体断裂瞬间的力值。很明显,这样的测试是一个动态的过程。