航天冷热冲击测试设备主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。

    航天冷热冲击测试设备技术参数：

    1、内箱尺寸：50*40*50cm；

    3、内箱材质 :SUS 304# 8K镜面不锈钢板；

    3、外箱材质：特殊防锈处理之钢板喷塑或SUS 304#纹路处理之不锈钢；

    4、高温槽温度范围：+60 ~200℃；

    5、低温槽温度范围：A:（-55 ~ -10℃）. B:（-65 ~ -10℃）. D:（-80 ~ -10℃）；

    6、实验箱冲击温度：高温 60~150℃ ；

    7、低温 A:（-10 ~ -40℃） B:（ -10 ~ -55℃） D:（ -10 ~ -65℃）；

    8、升温时间：60~200℃小于35分；

    9、降温时间：A:+20~-55℃小于75分 B:+20~-65℃小于80分 D:+20~-75℃小于90分。

    航天冷热冲击测试设备满足标准：

    1、GB/T2423.1-2001低温试验方法；

    2、GB/T2423.2-2001；

    3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N；

    4. 国军标GJB150.3-86；

    5. 国军标GJB150.4-86；

    6. 国军标GJB150.5-86；

    7、GJB150.5-86温度冲击试验；

    8、GJB360.7-87温度冲击试验；

    9、GJB367.2-87 405温度冲击试验；

    10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；

    11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式；

    12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；

    10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；

    11、GB/T 2423.22-2002温度变化；

    12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则；

    13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

    航天冷热冲击测试设备使用注意事项：

    1、高低温试验箱使用过程中会产生大量的热量，因此需要将设备安装在通风良好的地方，同时此设备在做试验时，一定不要让易燃易爆材料、强磁和强烈振动环境中；

    2、不要将试品电源接入设备电源中，除非设备预留出试品电源接口，否则会增加设备电源负荷。严禁试验易燃、易爆、高腐蚀、强辐射物品。设备在通电状态下或者是在运行过程中请不要搬动检修；

    3、非人员不得拆卸、维修；

    4、在操作当中，除非有必要，请不要打开箱门，否则可能引起人身伤害以及设备误动作。高低温汽冲出箱外十分危险箱门内侧仍然保持高温造成烫伤；

    5、箱体内温度≥55℃时，请勿打开制冷压缩机，以保证压缩机长寿命正常的运行；

    6、设备应有可靠接地；

    7、试验中除非必要请勿打开箱门或进入箱内，否则可能引起人身伤害以及设备误动作；

    8、高低温试验箱的控制部分，就是其控制仪表。为保证合理正确地运行本仪表操作设备，请定期对仪表进行较正以及对设备整机的保养；

    9、设备设有多种保护措施，请定期检查；

    10、有制冷功能的产品搬运时倾角不得大于45℃，放置到位后，应静放1～2天再开机，有利于制冷系统能正常工作并延长寿命；

    11、切勿重力开启/闭合产品箱门，否则易导致箱门脱落，造成产品损坏，产生伤害事故；

    12、产品长时间停止使用时，应定期做驱除潮气处理，避免损坏有关器件；

    13、禁止私自装配、加工、改造或修补，否则可能发生异常现象如操作人员触电、火灾等风险；

    14、详细阅读本设备所附文件后，方可操作本设备；

    15、本试验箱无防爆装置，不得放入易燃易爆物品干燥；

    16、如果箱内放入发热试样，试样请使用外加电源，不要直接使用设备本身电源。