航天冷热冲击测试设备

发布时间:2018/9/18 11:23:00

    航天冷热冲击测试设备主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。

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    航天冷热冲击测试设备技术参数:

    1、内箱尺寸:50*40*50cm;

    3、内箱材质 :SUS 304# 8K镜面不锈钢板;

    3、外箱材质:特殊防锈处理之钢板喷塑或SUS 304#纹路处理之不锈钢;

    4、高温槽温度范围:+60 ~200℃;

    5、低温槽温度范围:A:(-55 ~ -10℃). B:(-65 ~ -10℃). D:(-80 ~ -10℃);

    6、实验箱冲击温度:高温 60~150℃ ;

    7、低温 A:(-10 ~ -40℃) B:( -10 ~ -55℃) D:( -10 ~ -65℃);

    8、升温时间:60~200℃小于35分;

    9、降温时间:A:+20~-55℃小于75分 B:+20~-65℃小于80分 D:+20~-75℃小于90分。


    航天冷热冲击测试设备满足标准:

    1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;

    2、GB/T2423.2-2001;

    3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;

    4. 国军标GJB150.3-86;

    5. 国军标GJB150.4-86;

    6. 国军标GJB150.5-86;

    7、GJB150.5-86温度冲击试验;

    8、GJB360.7-87温度冲击试验;

    9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;

    10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式;

    11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;

    12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;

    10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;

    11、GB/T 2423.22-2002温度变化;

    12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;

    13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。


    航天冷热冲击测试设备使用注意事项:

    1、高低温试验箱使用过程中会产生大量的热量,因此需要将设备安装在通风良好的地方,同时此设备在做试验时,一定不要让易燃易爆材料、强磁和强烈振动环境中;

    2、不要将试品电源接入设备电源中,除非设备预留出试品电源接口,否则会增加设备电源负荷。严禁试验易燃、易爆、高腐蚀、强辐射物品。设备在通电状态下或者是在运行过程中请不要搬动检修;

    3、非人员不得拆卸、维修;

    4、在操作当中,除非有必要,请不要打开箱门,否则可能引起人身伤害以及设备误动作。高低温汽冲出箱外十分危险箱门内侧仍然保持高温造成烫伤;

    5、箱体内温度≥55℃时,请勿打开制冷压缩机,以保证压缩机长寿命正常的运行;

    6、设备应有可靠接地;

    7、试验中除非必要请勿打开箱门或进入箱内,否则可能引起人身伤害以及设备误动作;

    8、高低温试验箱的控制部分,就是其控制仪表。为保证合理正确地运行本仪表操作设备,请定期对仪表进行较正以及对设备整机的保养;

    9、设备设有多种保护措施,请定期检查;

    10、有制冷功能的产品搬运时倾角不得大于45℃,放置到位后,应静放1~2天再开机,有利于制冷系统能正常工作并延长寿命;

    11、切勿重力开启/闭合产品箱门,否则易导致箱门脱落,造成产品损坏,产生伤害事故;

    12、产品长时间停止使用时,应定期做驱除潮气处理,避免损坏有关器件;

    13、禁止私自装配、加工、改造或修补,否则可能发生异常现象如操作人员触电、火灾等风险;

    14、详细阅读本设备所附文件后,方可操作本设备;

    15、本试验箱无防爆装置,不得放入易燃易爆物品干燥;

    16、如果箱内放入发热试样,试样请使用外加电源,不要直接使用设备本身电源。