高温老化测试箱用小型电子元器件、小型光电、小型LED等产品做耐寒试验、温度快速变化或渐变条件下的适应性试验。特别使用于进行电子、电工产品的环境应力筛选(ESS)试验。

    高温老化测试箱规格参数：

    型号：T--HWS-150

    内箱尺寸WxHxD：50x60x50

    外箱尺寸WxHxD：100x185x100

    温度范围：+50～150℃(A)  0～150℃(B)  -20～150℃(R)  -40～150℃(L)  -60～150℃(S)  -70～150℃ ( T )  -100～150℃(H)

    湿度范围：20%～98%    （10%～98%）

    温度波动度：±0.3℃

    升降温速率：升温≥3.5 ℃/min     降温≥1 ℃/min

    制冷方式：单元制冷方式/双元(复叠)制冷方式

    高温老化测试箱安保装置：

    压缩机过热保护； 压缩机过流保护 ；压缩机超压保护；冷凝风机过热保护 可调式超温保护； 空气调节通道极限超温保护； 风机电机过热保护 总电源相序和缺相保护； 漏电保护； 加热加湿干烧保护 超载及短路保护； 断电保护

    安装场地：

    地面平整，通风良好

    设备周围无强烈振动

    设备周围无强电磁场影响

    设备周围无易燃、易爆、腐蚀性物质和粉尘