HAST高压加速老化试验箱内经抛光处理经久耐用美观不沾污，圆形横置式内槽结构设计方便使用者取置待测物品，可预防试验中有滴水结露现象，可避免蒸汽过热直接冲击操作人员。HAST高压加速老化试验箱安全程序自动停机，自动泄压，自动破真空，自动给水，每次加水可持续运行48小时，采用温度与压力安全检知及门禁自动锁定控制系统，圆型测试槽与安全门环扣结构设计，当内箱压力越大时，反压会迫使安全门与箱体更加紧密之结合，故内箱压力必须小于正常压力时，测试门才能被打开，因此而保证了操作人员的安全。

　　HAST高压加速老化试验箱加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高HAST高压加速老化试验箱试验效率、减少试验时间，采用了的压力蒸煮锅试验方法。

　　HAST高压加速老化试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器。HAST高压加速老化试验箱采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据功能，高效真空泵，使箱内达到纯净饱和蒸汽状态。