镀金线测厚仪采用多导毛细管聚焦的光学系统。

X射线管产生的X射线通过毛细玻璃管内壁的全反射进行传播，利用毛细玻璃管的弯曲改变X射线的传播方向，从而实现X射线的聚焦。

光学系统的图片。

镀金线测厚仪采用多导毛细管聚焦光学系统，光斑直径可以小到微米级，特别适合用于晶圆微区、PCB电路板以及芯片针脚等超微小测量点的镀层分析。

镀金线测厚仪的性能特点

1、专业化程度很高。

多通道数字谱图界面，清晰展示被检测样品的元素谱图。

该软件具备定性分析和元素识别功能，能够便捷地识别样品中的元素。同时，它还支持叠加虚谱功能，便于对不同批次样品进行定性对比分析。

该软件具备多种校正功能，包括底材校正、能量校正、强度校正和密度校正等。

除了检测镀层的厚度外，还可以测量表面密度、合金镀层的比例以及合金成分。

2、高度智能化

开盖后自动弹出的样品平台

支持多点检测和网格检测。

操作简单

通过双摄像头和双激光点，可以快速定位需要测量的区域，并使用摇杆和快捷键按钮进行迅速检测，从而提高工作效率。

4、Jing准检测

毛细管聚焦光学装置与精确定位平台结合，聚焦直径可达到10微米。

高分辨率的Fast-SDD探测器能够对薄的chao样品进行精确分析。

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