镀金首饰镀层厚度测量仪器简介

镀金首饰镀层测厚仪Thick800A是一款广泛应用的能量色散型X射线荧光光谱仪，配备高分辨率的超薄铍窗SDD探测器，探测器的分辨率可达到139eV，性能非常出色。该仪器采用上照式设计，具备多重辐射防护装置及X射线发生器，确保辐射剂量符合国际标准。其样品观察系统采用CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位技术，以及自主研发的测厚分析软件，各项指标均符合相关技术要求，整体性能达到了先进水平。

技术指标

仪器：镀金首饰厚度测量仪

型号：厚型800A

外形尺寸为：宽576毫米×深495毫米×高545毫米。

样品室的尺寸为：宽500毫米×深350毫米×高140毫米。

样品台尺寸为：宽度230毫米，深度210毫米。

Z轴升降平台的升降高度范围为0到140毫米。

镀金首饰镀层测厚仪的平台移动测量范围为：宽度50毫米，深度500毫米，高度135毫米。

分析方法：结合FP和EC法的能量色散X射线荧光分析技术。

镀金首饰的镀层测厚仪可以测量原子序数在16（硫）到92（铀）之间的元素。

同时可以检测的元素数量为24种，并且支持对五层镀层进行检测分析。

检测限：金属镀层的分析灵敏度可达到0.005微米。

厚度范围：通常情况下，镀层的厚度分析在50微米以内（具体情况依据材料而不同）。

镀金无损测厚仪的稳定性：其重复测量的精确度可达1%。

检测时间为30至60分钟。

探测器和分辨率：25mm2的铍窗口SDD探测器，分辨率为140±5电子伏特。

激发来源：50KV/1000uA-W靶的X光管及其高压电源。

多道分析器：DMCA数字多道分析技术，能够处理4096个数据通道的分析。

准直器和滤光片固定为直径0.2毫米的准直器，此外还可选择其他孔径和铝制滤光片。

镀金无损测厚仪的定位特点为：平台电机的重复定位精度达到小于0.1微米。

样品观察：配备了CCD彩色摄像头，图像放大倍数可达40倍，能够清晰定位微小样品。

平台的稳定性：Z轴测试平台利用恒力弹簧来平衡重力，这样可以让平台以稳定的力量上下移动，从而减轻Z轴电机的负担，提升Z轴的垂直度。

安性双重安全保护系统：包含防撞激光探测器和样品室门的开关传感器。设备在待机状态下不会产生辐射，工作时的辐射水平远低于国际安全标准，同时配备了软件联动装置。

操作环境的温度和湿度要求在15℃至30℃之间，湿度不得超过70%。

该仪器重达90公斤。

镀金首饰镀层测厚仪的工作电源为交流220V±5V，建议采用净化稳定的交流电源。