X光荧光分析仪能够对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气尘埃和薄膜样品等进行定性和定量分析。它的元素检测范围从铝（13Al）到铀（92U），含量检测可低至ppb级，最低检出限可达到2pg。X荧光光谱仪在无损检测方面具有其他分析技术无法比拟的优势，使用X射线光谱仪探测土壤表层下的元素是该无损检测技术的一个重要应用领域。

X光荧光分析仪的优势包括：

1、制样过程简便：一般采用物理方法进行制样。试样经过简单的破碎和研磨，形成粉末后再进行压片或熔融处理。

2、分析范围广泛：理论上可以对从铍（Be）到92号元素铀进行分析。

3、测量范围广泛：可分析从0.001%到其它数值。

X光荧光分析仪操作时的注意事项：

1、在测量期间，切勿突然切断电源。

2、请避免直接分析低熔点样品，例如低熔点沥青、油漆等。这些样品在室温下可能是固态的，经过射线照射后会融化，如果不小心滴到光管头上，可能会对仪器造成损坏。如果需要进行分析，请将样品放置在液体杯中进行测量。

3、在分析液体样品和粉末样品时，必须在氦气模式下进行测量，并且无法进行抽真空。

4、请勿对液体样品进行长时间分析，液体杯的照射时间通常不能超过半小时。

5、请勿分析松散或有裂纹的压片样品。如果大块样品掉入样品室，无法进行分析，请及时通知三翔分析仪器。

6、光管头上的窗是有毒且价格昂贵，若窗破损，整根光管将会报废。请注意：切勿用任何物体接触光管头上的窗。如果有样品掉落在窗上，请仅使用吸耳球轻轻将样品吹走，切勿用酒精棉花擦拭。

X光荧光分析仪的优势：

1、分析速度较快。测定所需时间与测定的精密度有关，但通常较短，样品中所有待测元素的测定时间为2到5分钟。

2、X射线荧光光谱与样品的化学结合状态没有关系，同时也基本不受固体、粉末、液体以及晶体和非晶体等物质状态的影响（即使气体被封闭在容器中也可以分析）。不过，在高分辨率的精密测量中，确实可以观察到波长的变化等现象。特别是在软X射线范围内，这种效应尤为明显。波长的变化可用于化学位的测定。

3、非破坏性测试。在测量过程中不会引起化学状态的变化，也不会导致样品散落。同一样品可以多次进行测量，其结果具有良好的重复性。

4、X射线荧光分析是一种物理分析技术，因此可以对化学性质相似的元素进行分析。

5、分析的精确度很高。

6、样品制备过程简单，固体、粉末和液体样品均可进行分析。

X光荧光分析仪的使用注意事项：

1、为了保持仪器的外观良好，应该定期用软布擦拭表面，清除灰尘。

2、在向样品腔内放置样品时，一定要保持清洁，避免样品的灰尘颗粒掉入腔内，否则可能会污染X光管和探测器窗口，导致测量不准确和探头损坏。

3、样品盖需使用酒精棉球进行彻底清洁。

4、为了确保仪器能够长期正常运行，需要定期测试各项参数并进行相应的调整。

5、X光荧光分析仪仅允许经过培训的人员进行操作，其他人员不得进行操作。

6、在使用、存放和移动时，要格外小心，以防止碰撞、外表受损及内部线路损坏。

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