X荧光分析仪采用数字多道技术，测试计数率可达到100,000 CPS，具有极高的准确性，并在合金检测方面表现出色。

SDD硅漂移探测器具有优异的能量线性、能量分辨率和能谱特性，并且具有较高的峰值与背景比。

低能X射线能够有效地激发待测元素，尤其是硅（Si）、磷（P）等轻元素的激发效果尤为明显。

智能抽真空系统能够有效隔绝空气的影响，显著拓展测试的范围。

X荧光分析仪的自动稳谱装置提高了仪器的工作稳定性。

高信噪比电子电路组件

针对不同样品，系统会自动切换准直器和滤光片，从而简化了繁琐的手动操作。

解谱技术可以将谱峰进行分解，从而确保所测元素的分析结果具有一致的精度。

多参数线性回归方法有效地减弱了元素之间的吸收和增强效应。

内置高分辨率摄像头设备

液晶屏的显示使得仪器的核心参数（管压、管流和真空度）一目了然。

应用域

合金检测、全面元素分析以及有害物质检测（包括RoHS和卤素）。

X荧光分析仪的产品介绍、技术参数及配置信息。

该仪器的主要特点是配备智能真空系统，能够有效激发Si、P、S、Al、Mg等轻元素。同时，利用XRF技术，可以分析高含量的Cr、Ni、Mo等重要元素。这在冶炼过程的控制中，显著缩短了测试时间，极大提高了检测和工作效率。

X荧光分析仪此外，该设备在合金成分分析、全元素分析以及有害元素检测等领域的应用也非常广泛。EDX 4500H高岭土成分分析仪基于XRF检测原理，能够对各种元素成分进行无损检测。

技术参数

产品型号为：EDX 4500H。

产品名称：X射线荧光分析仪器

测量元素的范围涵盖了从钠（Na）到铀（U）之间的所有元素。

元素含量分析的范围为：ppm——（不同元素的分析范围各不相同）

可以同时测量多达几十种元素。

测量的时间范围为30到200。

探测器的能量分辨率为145±5 eV。

真空光谱元素分析仪的管压范围是从5千伏到50千伏。

流量范围：50μA至1000μA

测量对象的状态包括粉末、固体和液体。

输入电压：交流110V/220V

环境温度范围：15℃到30℃。

环境湿度范围为35%至70%。

样品腔的体积为320毫米乘100毫米。

外型尺寸为660毫米× 510毫米× 350毫米。

体重为65公斤。

标准配置

X射线荧光分析仪器

硅漂移探测器（SDD）是一种用于探测和测量粒子或辐射的设备。

数字多路复用技术

光路增强装置

高信噪比电子电路模块

X荧光分析仪配备高画质摄像头。

自动切换聚光镜和滤光片。

自动稳谱仪器

三重安全保障机制

整体钢结构

90mm×70mm的状态显示液晶屏幕

真空泵

厂家介绍

江苏天瑞仪器股份有限公司是一家拥有自主知识产权的高科技企业，注册资本为23088万元。公司设有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司，总部位于美丽的江苏省昆山市阳澄湖旁。主要业务包括光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及相关软件的研发、生产和销售。