江苏天瑞仪器股份有限公司成立于注册，是一家拥有一年经验的测厚仪供应商，主要提供光谱膜厚仪、荧光镀层厚度测厚仪及原厂天瑞仪器等产品。我们致力于提供高品质的产品和服务，始终坚持“树立科学发展观，提升公司竞争力”的发展理念。欢迎客户以及社会各界人士莅临我司参观指导。我们的地址位于江苏省苏州市昆山市，联系方式如下：

光谱膜厚仪的安装要求

1 环境温度要求：15℃至30℃

环境相对湿度应低于70%。

工作电源：交流电220伏，允许偏差±5伏。

周围环境中不应存在强烈的电磁干扰。

售后保障

1.仪器将进行终身保养。

2.软件升级免费：如有软件升级，乙方将免费提供，不会收取任何升级费用。

3.技术服务的响应时间：提供的技术服务和相关的技术指导。

应用域

金属镀层厚度的检测，以及电镀液和镀层成分的分析。

主要应用于贵金属的加工与饰品制作行业；银行、饰品销售及检测机构；以及电镀行业。

宁波x射线镀层测厚仪应用分析，感兴趣的客户可以仔细阅读以下内容。请跟随小编一起了解。镀层的厚度决定了零件的耐腐蚀性、装饰效果以及防滑耐磨能力，因此必须按照设计要求来操作和控制镀层的厚度。

镀层测厚仪是一种能够进行谱分析的物理分析工具。当样品受到X射线照射时，样品中镀层或基底材料的元素原子会被激发，从而发射出其特征X射线。不同元素会产生各自独特的特征X射线。探测器会识别这些特征X射线，并将其光信号转化为模拟电信号。接着，模拟数字转换器将这个模拟电信号转换为数字信号，并送入计算机进行处理。计算机中专用的软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理确定样品中所含元素的种类以及各元素的镀层厚度。

它能够测量常见金属镀层的厚度，并且无需对样品进行预处理；分析时间非常短，仅需数十秒即可得到各金属镀层的厚度；测量的动态范围很宽，覆盖从0.005μm到60μm。

X荧光镀层测厚仪具有快速、简便和实用等优点，广泛应用于测量镀层厚度和电镀液浓度。

仪器介绍

宁波x射线镀层测厚仪Thick800A是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，配备有高分辨率的超薄铍窗SDD探测器，其探测器分辨率达到139eV，处于国际领先水平。该产品采用上照式设计，并具备多重防辐射保护装置及X射线发生器，确保辐射剂量符合国际标准。样品观察系统则搭载了CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位系统，以及自主研发的测厚分析软件，各项指标均满足相关技术要求，技术水平达到国际一流。

技术指标

设备：荧光厚度计

型号：厚型800A

外形尺寸：576（宽）×495（深）×545（高）毫米

样品室的尺寸为：500毫米（宽）×350毫米（深）×140毫米（高）。

样品台的尺寸为：230（宽）×210（深）毫米。

Z轴升降平台的升降范围为：0至140毫米。

平台的移动测量范围为：宽度50毫米×深度500毫米×高度135毫米。

分析方法：FP法与EC法结合的能量色散X荧光分析技术。

测量元素的范围是：原子序数在16（硫）至92（铀）之间的元素都可以进行测量。

同时可以检测24种元素，并分析五层镀层。

检出限：金属镀层分析的最低检测限度为0.005μm。

厚度范围：镀层的厚度一般分析在50微米以内（具体情况因材料而异）。

稳定性：多次测量的重复性可达到1%。

检测时间：30到60分钟

探测器及其分辨率：25mm2 Be 窗口的 SDD 探测器，分辨率为 140±5 eV。

宁波x射线镀层测厚仪激发源：50KV/1000uA-W靶X射线管和高压电源

多通道分析仪：DMCA数字多通道分析技术，支持分析4096个通道。

固定Φ0.2mm 的准直器和滤光片，其他孔径可选配，铝制滤光片。

定位精度：平台电机的重复定位精度小于0.1微米。

样品观察：配备CCD彩色摄像头，能够将图像放大至40倍，从而清晰定位微小样品。

平台稳定性：Z轴测试平台使用恒力弹簧来平衡重力，从而实现平台的恒定升降。这种设计不仅减轻了Z轴电机的负担，还提高了Z轴的垂直度。

安性双重安全保护设备：包含防撞激光探测器和样品室门开关传感器；在待机状态下无辐射，工作时辐射水平远低于国际安全标准，并配备有软件联动装置。

操作环境的温度和湿度范围为15℃至30℃，相对湿度不超过70%。

仪器的重量为90公斤。

宁波x射线镀层测厚仪工作电源要求：交流220V±5V，建议使用交流净化稳压电源。

优点简述

这款镀层仪器专为电子半导体、五金电镀、印刷线路板、手表饰品及检测机构等行业定制。它配备了可在XYZ三个方向调节的样品观察系统和激光定位功能，使检测更加便捷。仪器具有超大测试内部空间，良好的散热性能和抗电磁干扰能力，模块化结构设计使得安装、调试和维护都更加方便，能够适应恶劣的工作环境。

电镀的适用领域

铁基材料包括以下几种组合：□Fe/Zn、□Fe/Cu、□Fe/Ni、□Fe/Cu/Sn、□Fe/Cu/Au、□Fe/Cu/Ni、□Fe/Cu/Ni/Cr、□Fe/Cu/Ni/Au、□Fe/Cu/Ni/Ag。

铜基材料包括：铜镍（Cu/Ni）、铜银（Cu/Ag）、铜金（Cu/Au）、铜锡（Cu/Sn）、铜镍锡（Cu/Ni/Sn）、铜镍银（Cu/Ni/Ag）、铜镍金（Cu/Ni/Au）以及铜镍铬（Cu/Ni/Cr）。

锌基材料：□Zn/Cu，□Zn/Cu/银，□Zn/Cu/金

镁铝合金——□铝/铜，□铝/镍，□铝/铜/银，□铝/铜/金

塑料基体－－－塑料/铜/镍，塑料/铜/镍/铬

测量标准

1 标准 GB/T 16921-2005 / ISO 3497:2000

金属覆盖层厚度的测量可采用X射线光谱技术。

2.美标A754/A754M-08

通过X射线荧光测定钢材上金属涂层的涂层重量（质量）

宁波x射线镀层测厚仪标准配置

开放样品腔。

精密的二维移动样品平台，配备可上下调节的探测器和X光管，实现三维移动。

双激光定位系统。

铅玻璃防护罩。

信号检测电子电路。

高压和低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机与喷墨打印机

软件优势

应用优势

1. 快速：对一个样品的测量仅需10秒到60秒，样品可以不经过处理或只需简单处理。

无损测量：通过物理手段检测样品，不会改变其本质特性。

可以对样品进行分析。

4 直观：分析谱图呈现直观，元素分布清晰明了，定性分析的速度较快；

环保：在检测过程中不会产生任何废气和废水。

性能特点

满足不同厚度和不规则表面样品的测试需求。

φ0.1mm的小孔准直器能够满足微小测试点的要求。

高精度移动平台能够精确定位测试点，其重复定位精度小于0.005毫米。

使用高精度激光，能够自动确定测试的高度。

使用激光进行定位，以确定光斑的位置，确保测试点与光斑精确对齐。

鼠标可以用来控制移动平台，鼠标点击的地点就是测量点。

高分辨率探头提升了分析结果的准确性。

优良的辐射防护效果

测试口高度敏感的传感器保护。

厂家优势

天瑞公司建立了完善的质量管理体系，从进口关键零部件的检测开始，到仪器的组装、数据的标定与考核，每一个环节都严格控制，确保产品质量。公司依据ISO9001质量体系的标准进行产品质量管理，严格检查每个工序，坚决杜绝不合格品流入下一道工序；不合格产品绝不出厂，坚决执行“三不”和“三不放过”的原则，以确保产品质量，让用户使用放心。