仪器概述

厚度为800A的国产X射线镀层测厚仪是一款专门为测量镀层厚度而设计的新型仪器。它主要用于：测量金属镀层的厚度，检测电镀液和镀层的成分含量，以及分析黄金、铂、银等贵金属及各种饰品的含量。

技术指标

分析元素的范围：从硫（S）到铀（U）。

国产X射线镀层测厚仪可以同时检测超过24种元素，并支持多达五层的镀层测量。

检出限：可达2ppm，薄膜测试可至0.005μm。

分析含量通常在2ppm至99.9%之间。

镀层厚度：通常在50微米以内（各类材料有所差异）重复性：可达到0.1%

稳定性：可达到0.1% 

SDD探测器的分辨率可低至135eV。

采用的微孔准直技术可实现小孔径达到0.1mm，且小光斑同样可达0.1mm。

样品观察：配备景观和局部两台工业高清摄像头。

准直器规格：0.3×0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm及

Ф0.3mm的四种准直器组合。

仪器尺寸为：690（宽）x 575（深）x 660（高）毫米。

样品室的尺寸为520毫米（宽）x 395毫米（深）x 150毫米（高）。

样品台的尺寸为：宽393毫米，深258毫米。

X/Y/Z平台的移动速度为：标定速度为200mm/s，最高速度可达333.3mm/s。

X/Y/Z平台的重复定位精度为小于0.1微米。

操作环境湿度应不超过90%。

操作环境温度范围为15℃至30℃。

性能优势

国产X射线涂层测厚仪的精密三维移动平台

样品监测系统

的图像识别

轻松检测深槽样品

四种微孔聚焦准直器，具有自动切换功能。

双重保护机制，确保无缝防撞。

使用大尺寸高分辨率探测器，以降低检测限，提高测试的准确性。

国产X射线涂层测厚仪采用自动智能控制方式，操作简便，只需按键即可！

开机后自动退出自检并进行复位。

打开盖子后，样品台会自动退出，同时Z轴测试平台升起，以便于放置样品。

将样品台推向关盖位置，下降Z轴测试平台并自动进行对焦。

直接点击景观或局部景图像以选择测试点。

点击软件界面上的测试按钮，系统将自动执行测试并展示测试结果。