天瑞仪器Thick 800A型X荧光金属镀层测厚仪是专门研发用于金属镀层行业的一款自动分析仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台，基本实现智能化，是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在汽车涂覆层测厚中可谓大展身手，同时在电镀加工、铝合金镀层、五金工具镀层、线路板镀层等领域广泛应用。

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天瑞仪器Thick 800A型X荧光金属镀层测厚仪是专门研发用于金属镀层行业的一款自动分析仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台，基本实现智能化，是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在汽车涂覆层测厚中可谓大展身手，同时在电镀加工、铝合金镀层、五金工具镀层、线路板镀层等领域广泛应用。

X荧光金属镀层测厚仪仪器配置

开放式样品腔 

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动 

双激光定位装置 

铅玻璃屏蔽罩 

Si-Pin探测器 

信号检测电子电路 

高低压电源 

X光管 

高度传感器 

保护传感器 

计算机及喷墨打印机

X荧光金属镀层测厚仪性能优势

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度 

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐 

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点 

高分辨率探头使分析结果更加精准 

良好的射线屏蔽作用 

测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

元素分析范围：硫（S）～ 铀（U） 

同时检测元素：多24个元素，5层镀层 

检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm

分析含量：2ppm～99.9%

镀层厚度：50μm以内（每种材料有所不同） 

任意多个可选择的分析和识别模型 

相互独立的基体效应校正模型 

多变量非线性回收程序 

重复性：可达0.1%

稳定性：可达0.1%

操作环境温度：15℃～30℃ 

电源：交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源 

外观尺寸： 576（W）×495（D）×545（H）mm 

重量：90kg