天瑞X射线膜厚测试仪（X-ray Thickness Gauge）是一种基于X射线荧光光谱（XRF）技术的精密仪器，主要用于测量材料表面镀层或薄膜的厚度。它广泛应用于电子、半导体、电镀、珠宝、汽车等行业，能够快速、无损地测量多层材料的厚度和成分。

主要功能：

镀层/膜厚测量：

精确测量多层材料（如镀金、镀银、镀镍、镀铜等）的厚度。

支持单层或多层镀层的测量。

多元素分析：

可同时分析镀层中的多种元素成分（如Au、Ag、Ni、Cu、Sn等）。

无损检测：

采用非破坏性检测技术，不会对样品造成损伤。

高精度测量：

提供高精度的测量结果，分辨率可达纳米级别。

快速测量：

测量速度快，适合大批量样品的快速检测。

数据管理：

支持数据存储、导出和打印功能，便于记录和报告。

应用领域：

电子行业：

PCB板镀层厚度测量（如镀金、镀锡、镀镍等）。

半导体芯片薄膜厚度测量。

电镀行业：

检测电镀产品（如连接器、端子等）的镀层厚度。

珠宝行业：

检测珠宝首饰的镀金、镀银层厚度。

汽车行业：

测量汽车零部件（如传感器、触点等）的镀层厚度。

科研领域：

用于材料科学研究和薄膜技术开发。

技术特点：

XRF技术：

利用X射线激发样品中的元素，通过检测荧光信号来计算镀层厚度和成分。

高灵敏度：

能够检测极薄的镀层（纳米级别）和低浓度的元素。

多層测量：

支持多层镀层的同步测量（如Au/Ni/Cu结构）。

优势：

高精度：

提供纳米级分辨率的测量结果，确保数据的可靠性。

无损检测：

不会对样品造成损伤，适合成品和半成品的检测。

快速高效：

测量速度快，适合大批量样品的快速检测。

多功能性：

支持多种元素和镀层的测量，适用范围广。

注意事项：

校准：

使用前需进行仪器校准，以确保测量结果的准确性。

样品准备：

确保样品表面清洁，避免杂质影响测量结果。

定期维护：

定期对仪器进行维护和保养，延长使用寿命。

操作环境：

避免在强磁场或强振动环境下使用，以免影响测量精度。