Thick 800A镀层测厚仪参数规格

X型光测厚仪性能特点
1  满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；
2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；
3  ***移动平台可测试点，重复定位精度小于0.005mm；
4 X型光测厚仪采用高度定位激光，可自动定位测试高度；
5  定位激光定位光斑，确保测试点与光斑对齐；
6  鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；
7  高分辨率探头使分析结果更加*；
8  良好的射线屏蔽作用；