工业x光测厚仪

发布时间:2024/9/18 14:45:00

工业x光测厚仪概述

镀层膜厚是电镀产品的重要技术指标,关系到产品的质量以及生产成本。 工业x光测厚仪Thick800A镀层测厚仪是天瑞集多年的经验,***研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器,配备移动平台,可全自动软件操作,并进行多点测试,检测结果更加***。


电镀层厚度测试仪性能优势

金属镀层膜厚仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
zui小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
***移动平台可***测试点,重复定位精度小于0.005mm
工业x光测厚仪采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加***
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层
一次可同时分析多达五层镀层
工业x光测厚仪可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9%
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg

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测试实例

镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行***定位测试,其测试位置如图。

铜镀镍件X射线荧光测试谱图


<table cellpadding="0" cellspacing="0" font-size:14px;background-color:#ffffff;max-width:868px="" !important"="" style="border: 1px dotted rgb(211, 211, 211); font-family: Arial, Verdana, sans-serif;">

样 品 名

成分Ni(%)

镀层Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

100

18.846

吊扣4#

100

19.302

吊扣5#

100

18.971

吊扣6#

100

19.031

吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

标准偏差

0

0.273409

相对标准偏差

0

1.425257

铜镀镍件测试值

结论

实验表明,使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试,准确度高,速度快(几十秒),其测试效果完全可以和显微镜测试法媲美。