仪器介绍

X荧光厚度测厚仪φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

良好的射线屏蔽作用

X荧光厚度测厚仪元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

任意多个可选择的分析和识别模型。

多变量非线性回收程序

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

X荧光厚度测厚仪二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

铅玻璃屏蔽罩。

信号检测电子电路。

X光管。

保护传感器

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。