X射线无损电镀层厚度分析仪
发布时间:2024/10/30 11:11:00江苏天瑞仪器股份有限公司从事光谱(X荧光测厚仪、矿石分析仪、合金分析仪、ROHS分析仪,便携式光谱仪、电感耦合等离子体发射光谱仪ICP)、色谱、质谱(气相色谱质谱联用仪GCMS、液相色谱质谱联用仪LCMS、电感耦合等离子体质谱仪ICPMS)等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。 为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、等众多行业提供完善的行业整体解决方案。
X射线无损电镀层厚度分析仪注意事项
开启仪器电源开关时,动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。
向样品腔放置样品时,要注意样品的洁净,不可使尘粒掉入其中,否则会污染X光管和探测器窗口,造成测量失准和探头损坏;同时,还要注意轻拿轻放(使用镊子等器具取放样品),以免测量窗口的薄膜被破坏。
样品盖需要经常用酒精棉球清洁。
每次开机后,仪器都必须先预热30分钟,然后进行初始化,方可进行正常的检测工作。
测量不同类型的样品时,需从程序栏中选择其对应的选项,才能保证的测量效果。
为使仪器能长期保持工作正常,需定期对仪器的各项参数进行测试,并进行调整。
应用优势
X射线无损电镀层厚度分析仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;
软件可分析5层25种元素镀层;
通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求;
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器,实现对多镀层样品的分析;
内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
X射线无损电镀层厚度分析仪:Thick800A
测定步骤:
步:新建SnPb-Cu镀层厚度标准曲线
第二步:确定测试时间:40S
第三步:测试其重复性得出相对标准偏差
Thick800A镀层测厚仪是天瑞集多年的经验,研发生产的用于镀层行业的一款无损测试仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上为其开发的软件,在镀层行业中应用广泛。
天瑞仪器产业园期已经竣工并于2010年5月投产使用。天瑞仪器分析测试产业园历经三年建设,总投资数亿元的现代化园区占地100亩。产业园分为期和第二期,期总建筑面积约34,000平方米,投资逾亿建设的10层高智能化研发大楼以及工业别墅厂房目前已完工投入使用, 园区按“统一规划、合理布局”的原则,坚持高起点、高标准、高质量的要求,生产厂房设计完全符合现代仪器制造环境的要求。负压式通风、除尘设施、自然采光设计与防静电等技术的应用,保证了良好的生产环境,符合国际环保和节能的要求,体现了绿色生产的理念。