X射线无损膜厚仪
发布时间:2024/10/29 17:27:00江苏天瑞仪器股份有限公司是一家研发、生产X荧光镀层测厚仪,直读光谱仪,手持式光谱仪,手持式合金分析仪,气相质谱仪,液相质谱仪,ROHS测试仪,电感耦合等离子发射光谱仪,等离子体质谱仪,手持式不锈钢材质检测光谱仪,镀层膜厚测试仪,X荧光测厚仪的厂家,分析仪器上市公司,公司坐落于江苏省苏州市昆山市,欢迎广大客户前来参观考察。应用优势
X射线无损膜厚仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;
软件可分析5层25种元素镀层;
通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求;
X射线无损膜厚仪内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
技术指标
X射线无损膜厚仪型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
X射线无损膜厚仪:Thick800A
测定步骤:
步:新建SnPb-Cu镀层厚度标准曲线
第二步:确定测试时间:40S
第三步:测试其重复性得出相对标准偏差
Thick800AX射线无损膜厚仪是天瑞集多年的经验,研发生产的用于镀层行业的一款无损测试仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上为其开发的软件,在镀层行业中应用广泛。
天瑞为所售仪器提供拓展空间,在客户新产品研发所需检测的其它项目,天瑞的化学实验室可为客户提供免费、快速的样品分析。