江苏天瑞仪器股份有限公司生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售的一体型企业。公司于2011年1月25日在深圳创业板上市，成为分析测试仪器行业的一家上市公司。天瑞仪器是具有RoHS环保测试仪|RoHS2.0检测仪|邻苯测试仪|XRF|卤素仪|重金属测试仪|XRF|金属镀层测厚仪|金镍厚测试仪|金属元素分析仪|便携式测试仪|天瑞EDX1800B|天瑞镀层膜厚仪|天瑞EDX1800E|天瑞rohs测试天瑞ROHS有害元素分析仪|ROHS无卤元素分析仪|气相色谱|相色谱|子吸收光谱|X射线荧光光谱仪|光电直读光谱仪|ICP光谱仪|金属多元素分析仪|碳硫分析仪|X荧光测厚仪ROHS仪器、无卤分析仪、REACH分析仪、增塑剂检测仪等仪器的生产销售。

半导体镀层膜厚分析仪：Thick800A
测定步骤：
步：新建SnPb-Cu镀层厚度标准曲线
第二步：确定测试时间：40S
第三步：测试其重复性得出相对标准偏差

半导体镀层膜厚分析仪应用领域
对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

半导体镀层膜厚分析仪注意事项
开启仪器电源开关时，动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。
向样品腔放置样品时，要注意样品的洁净，不可使尘粒掉入其中，否则会污染X光管和探测器窗口，造成测量失准和探头损坏；同时，还要注意轻拿轻放（使用镊子等器具取放样品），以免测量窗口的薄膜被破坏。
样品盖需要经常用酒精棉球清洁。
半导体镀层膜厚分析仪每次开机后，仪器都必须先预热30分钟，然后进行初始化，方可进行正常的检测工作。
测量不同类型的样品时，需从程序栏中选择其对应的选项，才能保证的测量效果。
为使仪器能长期保持工作正常，需定期对仪器的各项参数进行测试，并进行调整。

技术指标
半导体镀层膜厚分析仪型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

天瑞为所售仪器提供拓展空间，在客户新产品研发所需检测的其它项目，天瑞的化学实验室可为客户提供免费、快速的样品分析。