X射线荧光膜厚检测仪

发布时间:2024/10/21 19:42:00

X射线荧光膜厚检测仪设计亮点 全新的下照式设计,一键式的按钮,让您的鼠标键盘不再成为必须,大减少您摆放样品的时间。 全新的光路系统,大大减少了光斑的扩散,实现了对较小产品的测试。 搭配高分辨率可变焦摄像头,配合高性能距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,拱形,螺纹,曲面等)的异型测试面的测试。在现代工业中,测厚仪扮演着至关重要的角色。无论是在金属加工、涂层检测,还是在建筑业和汽车制造等领域,测厚仪的应用无处不在。随着科技的不断发展,X射线荧光膜厚检测仪的种类和功能也在不断升级,已成为工程师和技术人员日常工作中不可或缺的一部分。

不同类型的测厚仪具有不同的工作原理。以超声波测厚仪为例,其工作原理简单高效。当超声波阵列发射器产生超声波脉冲后,超声波会在介质内传播,遇到不同介质的界面时,会部分反射回来。测厚仪通过接收返回的反射波,结合声速计算出材料的厚度。