x光镀层测厚仪EDX 600 PLUS 是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光测厚仪经验，***研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行***检测，帮助企业准确核算***及质量管控。用于各种可***应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

进口的高功***压单元搭配微聚焦的X光管，***的***了信号输出的效率与稳定性。 相比普通版的EDX 600，EDX 600 PLUS采用了更为***的高分辨率FAST SDD探测器，其分辨***达140EV，能***的将不同元素的信号准确解析，针对多镀层与复杂合金镀层的测量，有着不可比拟的***。

x光镀层测厚仪在准直器的选择上，EDX 600 PLUS也有着很大的***，相较于普通的EDX600，它可以搭配的准直器更小：0.1*0.2mm,φ0.15mm;φ0.2mm；φ0.3mm等等。用超小的准直器得到的超小光斑，让更小样品的测量也变得游刃有余。

搭配双屏显示界面，让仪器的使用人员即使不观察电脑屏幕，也能直接一键测量。

x光镀层测厚仪下照式设计，一键式的按钮，***减少摆放样品时间。 ***的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现了对更小产品的测试。 搭配高分辨率可变焦摄像头，配合***距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等）的异型测试面的***测试。

人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。 曲线的中文备注，让您的操作更易上手。 仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。