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电子元器件在高低温循环冲击试验箱中的测试条件
发布时间:2018/4/16 15:53:00一、工作原理:
高低温循环冲击试验箱通过电子元器件从二个不同温度的储存箱中交替存放一个很短的时间,考验器件对温度循环的承受能力,也可以考核器件内部不同材料热膨胀系数的匹配情况。
二、用途:可靠性试验摸底,工艺试验。
三、冷槽:- 55℃ 高温储存箱 :3.5KW 0℃~ 300℃ (温度可设定)
四、操作规范:
1、常规产品规定每季度做周期试验,试验条件及判据采用或等效采用 产品标准;新产品、新工艺、用户特殊要求产品等按计划进行。
2、高低温循环冲击试验箱采用LTPD的抽样方法,在次试验不合格时,可采用追加样品抽样 方法或采用筛选方法重新抽样,但无论何种方法只能重新抽样或追加。
3、若LTPD=10%,则抽22只,0收1退,追加抽样为38只,1收2退。抽样必须在OQC检验合格成品中抽取。
4、要严格按照冷槽、高温储存箱“技术说明书”操作顺序操作:
①把要做试验的样管用TVR6000综测仪或生产线测试仪进行测试并逐只记录;
②把管子放在高低温冲击测试箱中,重复下表所载温度循环10~100次。
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