多功能数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:DP-2258C 概述

发布时间:2016/6/29 8:52:00

多功能数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:DP-2258C

概述
DP-2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。
主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;电压电流全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能,分类10类。
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配:一般四探针法测试电阻率/方阻配DP-T-ADP-T-BDP-T-CDP-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选DP-T-K型测试台,也可选配DP-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配DP-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
仪器具有测量高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本技术参数
1. 测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量级)
    阻:10.0×10-6  200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6  0.1×103  Ω
         1.0×10-6  20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6  0.01×103 Ω
  率:10.0×10-6  200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6  0.1×103  Ω-cm
         1.0×10-6  20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6  0.01×103 Ω-cm
方块电阻:50.0×10-6  900.0×103 Ω/□    分辨率5.0×10-6  0.5×103  Ω/□ 
         5.0×10-6  100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6  0.1×103  Ω/□
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
    径: DP-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15130mm,手持方式不限
DP-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限.
()度:  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.
测量方位:  轴向、径向均可

量程划分及误差等级

满度显示

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

常规量程

kΩ-cm/

kΩ-cm/

Ω-cm/□

mΩ-cm/

---

拓展量程

---

kΩ-cm/

Ω-cm/□

mΩ-cm/

mΩ-cm/

基本误差

±2%FSB

±4LSB

±1.5%FSB

±4LSB

±0.5%FSB±2LSB

±0.5%FSB

±4LSB

±1.0%FSB

±4LSB

工作电源:220V±10, f=50Hz±4,PW≤5W

5.外形尺寸: 245mm(长)×220 mm(宽)×95mm(高)

   重:≤1.52.0kg