温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪 型号;DP-FD-TM组成

发布时间:2016/5/19 8:18:00

温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪     型号;DP-FD-TM
对温度传感器性能的了解及测试是大学物理实验的一项必备内容,但大多数实验仪器只具备做环境温度以上的实验, DP-FD-TM温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪具备了半导体致冷功能,使之能做环境温度以下的实验。本仪器主要测试温度传感器AD590的性能(可根据要求增加多种温度传感器的测试)及了解半导体致冷堆的性能。 
  仪器主要由以下部分组成:
  1.TCF708控温仪 
  2.四位半数字电压表(0-2V) 
  3.加热井和致冷井装置 
  4.AD590实验系统 
  应用该仪器可以完成以下实验: 
  1.学习半导体制冷的原理。 
  2.测量电流型温度传感器AD590的特性。 
  3.学习智能温度调节仪控温的原理及调节方法。 
  仪器主要技术参数: 
  1.加热范围 环境温度-120℃ 
  2.致冷范围 环境温度-低于环境温度30℃ 
  3.控温 0.1℃ 
  4.测温 ±3%