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台式薄膜测厚仪/薄膜测厚仪 型号：DP-CH-1-ST主要技术参数：
发布时间：2016/3/17 8:42:00台式薄膜测厚仪/薄膜测厚仪 型号：DP-CH-1-ST
测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜或薄片）。本测厚仪执行标准GB/T6672-2001标准。
主要技术参数：
1/1000 0-1mm
台式薄膜测厚仪/薄膜测厚仪 型号：DP-CH-1-ST
测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜或薄片）。本测厚仪执行标准GB/T6672-2001标准。
主要技术参数：
1/1000 0-1mm