光辐射自动测控仪/光辐射测控仪 型号:DP-GCK-I 作用

发布时间:2016/11/7 8:47:00

光辐射自动测控仪/光辐射测控仪 型号:DP-GCK-I

本仪器适用于实时监测曝光量或曝辐量。用户可以根据工作需要设定预置值,仪器在监测量达到预置值时发声报警。该仪器可广泛应用于材料老化、紫外杀菌、光化学、大规模集成电路光刻等领域。 

光辐射自动测控仪/光辐射测控仪 型号:DP-GCK-I

主要性能和技术指标

1.测量波段与量程:
测量范围(nm) 峰值波长(nm) 量   程 主要用途
辐照度 曝光(辐)量
350—1050 半 宽400—1000 999 mW/cm2 9999.9 MJ/m2 材料老化
230—290 254 9.99 mW/cm2 999.99 mJ/cm2 紫外杀菌
320—400 365 9.99 mW/cm2 999.99 mJ/cm2 印刷、光刻
380—460 420 9.99 mW/cm2 999.99 mJ/cm2 印刷

 

 

 

 

注:表中所列为常用波段和量程,用户选购仪器时要首先确认工作波段以及量程。用户也可选择其它波段,例如峰值波长为313nm或340nm,但是要提前就主要技术指标与技术部沟通,双方确认后再签购销合同。定制产品原则上不予退货。 
2.仪器显示:本仪器有两个LED显示窗口,其中光辐照度显示3位,
曝光量显示5位,两窗口的量程由用户参照上表确定。
3.光辐照度及曝光量:±5% (相对于NIM标准)
4.使用环境:温度:20℃±20℃ 湿度 <80%
使用光纤传光束时,试验箱的温度可达到80℃左右。
5.电源:AC 220V