光致发光光谱测量系统应用介绍

发布时间:2017/8/22 14:54:00

光致发光 (photoluminescence) 即 PL,是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光,在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光(波长如 325nm、532nm、785nm 等)激发材料(如 GaN、 ZnO、GaAs 等)产生荧光,通过对其荧光光谱(即 PL 谱)的测量,分析该材料的光学特性,如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息,是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法,因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。

OmniFluo “卓谱”组合式荧光光谱测量系统

荧光光谱仪在许多领域中被广泛应用,如:材料学(宽禁带半导体材料发光特性检测)、生物学(叶绿素和类胡萝卜素检测)、生物医学(恶性病的荧光诊断)和环境监测中都可以用到荧光检测技术。

OmniFluo “卓谱”系列荧光光谱测量系统采用模块化的组合方式集成而成,吸收了我公司 15 年的光谱系统设计、制造经验,通过不同配件的选择,不仅可以实现荧光光谱测量,还能够实现功能的多样化,如 PL、拉曼、透射反射吸收、探测器定标等光谱测量,有效解决了传统荧光分光光度计光谱范围有限及拓展功能不足的问题。

OmniFluo “卓谱”系统采用高性能“谱王”Omni-λ系列光谱仪 / 单色仪、高灵敏度单通道或多通道探测器,采用单光子计数技术或锁相放大技术,极大的提高了荧光探测的灵敏度,使得纯水拉曼信噪比达到 1000:1 以上的水平。

OmniFluo “卓谱”系统将 PL 和 PLE 两种荧光测试需求完美结合,采用模块化设计,可以根据需要进行系统架构的灵活调整,实现常温及低温下的荧光光谱、激发光谱测量。