我们需要明白评价一台X荧光光谱仪好坏的技术指标是多重、综合的。大部分用户关心和看重的主要有分析元素范围，即我们通常所说的可分析元素有哪些，分析时间长短，度如何等。技术指标的重要性终还是取决于应用目的。　　误区1：片面追求高指标。　　买一台仪器恨不得把元素周期表里的元素全测了，可实际应用的时候，只简单的测几种元素。　　对于工业分析而言，被分析样品的种类是确定的，甚至是单一的，对结果的要求也是确定的。特别是一些企业，可能它的实验室永远就测试一两种样品、一两种元素，甚至对元素的含量也简单的描述为不大于多少就行。对于远远高出这些要求的指标的追求实际上是一种资源的浪费。比如：大多数水泥厂的控制分析只做钙、铁，用于率值控制需要测钙、铁、硅、铝，全分析则要求增加Na、Mg、S、K等元素，几万元的钙铁仪便可满足控制要求，如追求能测硅铝则需要约十万元的多元素分析仪，多元素分析仪完全可以满足率值控制四种主要元素分析的要求，如一定要提出更高和速度的要求就需要约百万元的小型多道X荧光光谱仪了。由于被分析样品的确定性，经验系数法是有效的分析方法，如果一定要追求无标样法，便达不到经验系数法的效果。本来被测元素是确定的，而且数量有限，固定道就可以解决问题，一味追求可变道，既多花了钱，还牺牲了稳定性和分析时间；就能量色散型X射线荧光谱仪而言，道数也并非越多越好。所以在购买X荧光光谱仪前，一定要清楚自己买来干什么，然后才能确定型号。　　误区2：片面追求准确度。　　每当谈到仪器性能，往往会自然而然地把结果是否准确作为判断标准，而且在日常应用中也会把大量的精力用于判断仪器“准不准”，常见的就是与化学分析“对结果”。准确性固然重要，但作为工业分析而言，精密度决不可忽视，首先要关注的是精密度问题，也就是说，同一样品多次测量，其结果应有良好的一致性，每一测量结果与均值的差要足够小，至于测量值与真值的差，往往属于系统偏差，是可以进行数学校正的。这个可以理解，你对同一样品的同一元素进行两次测量，结果为1，结果为2，哪么如何上报实验结果？　　误区3：不重视稳定性和重现性。　　所谓稳定性是指同一样品连续测量多次（通常为21次）的标准偏差，而重现性则是同一样品间隔较长时间后再次测量的结果之间的一致性。这两项指标是作为工业分析仪器的关键指标，工业分析的结果主要是用于生产过程的控制和参数调整，分析结果的相对变化直接关系着过程控制和调节。而相对变化的准确测量是建立在稳定性和重复性之上的。　　误区4：分析时间越短越好。　　X射线测量是随机事件的统计测量，是由统计规律决定的，计数的量取决于测量时间，并直接决定着测量误差的大小，足够长的测量时间是测量的前提条件，为了保证测量，必须有足够的测量时间。