CHY-CB测厚仪-塑料薄膜-纸张-铝箔-高测厚仪
发布时间:2014/6/3 8:36:00CHY-CB测厚仪-塑料薄膜-纸张-铝箔-高测厚仪单价41000元,
CHY-CB测厚仪采用接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。
严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的误差
支持自动和手动两种测量模式,方便用户自主选择
实时显示测量结果的值、值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定,保证测试的和数据一致性
CHY-CB测厚仪高端
CHY-CB测厚仪采用了Labthink研发的嵌入式计算机系统平台,其技术优势和用户体验远超传统的单片机技术。
一体化系统设计,采用嵌入式开发技术将的检测设备与控制软件合二为一
专用控制系统从根本上杜绝了由计算机病毒、误操作等引起的系统软件故障,保证了设备运行的可靠性与数据的安全性
系统搭配标准显示器、鼠标、键盘,采用Windows操作界面,方便用户进行试验操作及数据展示
系统内嵌4个USB接口和2个网口,方便系统的外部接入和数据传输
CHY-CB测厚仪智能
CHY-CB测厚仪搭配了Labthink的操作软件,具有人性化的操作界面和智能化的数据处理功能;同时,在局域网的环境中,还支持LystemTM实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验。
传感器标定智能提示,让用户放心使用
软件内嵌电子帮助文档,方便用户随时查阅
系统支持中英文切换,方便不同语言的用户使用
用户多级权限管理,方便实验室管理人员规范设备使用
采用嵌入式数据库存储技术,保存每次试验的详细信息,并提供方便、多样的查询功能,用户可按曲线或数据列表等方式查看历史试验数据
系统支持试验结果比对,用户在试验开始之前设置标准数值和误差范围,试验完成后系统自动判断各个试验结果是否在标准误差范围之内,并直观的告知用户试样是否合格
标定数据恢复功能,有效解决了由误操作带来的不利影响,限度地保证了系统工作的安全性;系统可按用户指定的方式对关键信息数据进行修复,如各传感器的标定数据恢复操作
通过搭配LystemTM实验室数据共享系统,试验数据与设备信息仅需简单设置与操作即可上报,轻松实现实验室测试数据的集中化和系统化管理
CHY-CB测厚仪测试标准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
CHY-CB测厚仪应用
基础应用 |
薄膜薄片 | 适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试 |
纸张 | 适用于纸张、纸板的厚度测试 | |
箔片、硅片、金属片 | 适用于箔片、硅片、金属片的厚度测试 | |
纺织、无纺布材料 | 适用于纺织材料的厚度测试 | |
固体电绝缘体 | 适用于固体电绝缘体的厚度测试 | |
扩展应用 |
量程扩展至5,10mm | 适用于测试薄膜、片材的厚度 |
测量头为曲面 | 满足特殊场合的厚度测试 |
CHY-CB测厚仪技术指标
测试范围 0~2 mm(标准);0~6 mm,12 mm(可选)
分辨率 0.1 μm
测量速度 10 次/min (可调)
测试压力 17.5±1 kPa(薄膜);50±1 kPa(纸张)
接触面积 50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
外形尺寸 461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
电源 AC 220 V 50 Hz
净重 37kg
CHY-CB测厚仪产品配置
CHY-CB测厚仪标准配置 主机、显示器、键盘、鼠标、标准量块
CHY-CB测厚仪选购件 测量头、配重砝码、打印机(需兼容标准PCL3打印命令语言)、LystemTM实验室数据共享系统