微电子hast老化试验箱

发布时间:2019/1/8 14:13:00

艾思荔微电子hast老化试验箱 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆 采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度。采用指针显示正负压表;时间控制器采LED显示器;自动水位控制器,水位不足时提供警示。圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计。

微电子hast老化试验箱规格参数:

hast高压加速老化箱.jpg

内箱尺寸(cm):Φ25×D35   Φ30×D45  Φ40×D55  Φ50×D60

控制系统:微电脑饱和蒸气湿度+时间+压力显示独立控制器

温度范围:100℃-132℃可任意设定(143℃为特殊订制)

湿度范围:100%RH饱和蒸气湿度

使用蒸气压力:0.0kg/㎝2-4.00kg/㎝2Jue对压力;(Jue对压力:安全压力容量4kg/㎝2/G=1个环境大气压+3kg/㎝2)

解析度:温度:0.1压力;指针式0.1

控制稳定度:温度:±0.5℃,湿度:100%

内箱材质:SUS316#不锈钢

外箱材质:钢板烤漆

循环方式:水蒸气自然对流循环

配件:不锈钢置物架二层(或按客户要求定制)

电源:AC220V,50/60HZ&1¢,AC380V,50/60HZ&3¢

微电子hast老化试验箱安全保护装置:

1、感温器检测保护;

2、一阶段高温保护;

3、一阶段高压保护;

4、箱门压力限制;

5、水箱缺水报警断电;

6、温度加热器保护;

7、湿度加湿器保护;

8、二阶段高温保护;

9、二阶段高压保护;

10、三阶段紧急泄压保护;

11、手动泄压保护;自动泄压等.

微电子hast老化试验箱仪器用途:

    微电子hast老化试验箱又称为高压加速老化试验箱,适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性,气密性。测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间.

微电子hast老化试验箱技术优势:

    以前的温度测验都是通过温湿度的饱和,蒸汽压表计算的过程而计算出来准确性不足,现采用的是新技术,在温度、湿度、压力是真的读取相关感测器的数值来显示的、实验过程的。采用干燥的设计在实验过程中才用点热干燥设计,来确保测试区或者是待测品的干燥,来确保稳定性质。Jing准的压力/温度对照显示,完全符合温湿度压力对照表要求。