艾思荔微电子hast老化试验箱 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆 采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度。采用指针显示正负压表；时间控制器采LED显示器；自动水位控制器,水位不足时提供警示。圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计。

微电子hast老化试验箱规格参数：

内箱尺寸(cm)：Φ25×D35   Φ30×D45  Φ40×D55  Φ50×D60

控制系统：微电脑饱和蒸气湿度+时间+压力显示独立控制器

温度范围：100℃-132℃可任意设定（143℃为特殊订制）

湿度范围：100％RH饱和蒸气湿度

使用蒸气压力：0.0kg/㎝2-4.00kg/㎝2Jue对压力；（Jue对压力：安全压力容量4kg/㎝2/G=1个环境大气压+3kg/㎝2）

解析度：温度：0.1压力；指针式0.1

控制稳定度：温度：±0.5℃，湿度：100％

内箱材质：SUS316#不锈钢

外箱材质：钢板烤漆

循环方式：水蒸气自然对流循环

配件：不锈钢置物架二层（或按客户要求定制）

电源：AC220V,50/60HZ&1￠,AC380V,50/60HZ&3￠

微电子hast老化试验箱安全保护装置：

1、感温器检测保护；

2、一阶段高温保护；

3、一阶段高压保护;

4、箱门压力限制;

5、水箱缺水报警断电;

6、温度加热器保护;

7、湿度加湿器保护;

8、二阶段高温保护;

9、二阶段高压保护;

10、三阶段紧急泄压保护;

11、手动泄压保护;自动泄压等.

微电子hast老化试验箱仪器用途：

    微电子hast老化试验箱又称为高压加速老化试验箱，适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间.

微电子hast老化试验箱技术优势:

    以前的温度测验都是通过温湿度的饱和，蒸汽压表计算的过程而计算出来准确性不足，现采用的是新技术，在温度、湿度、压力是真的读取相关感测器的数值来显示的、实验过程的。采用干燥的设计在实验过程中才用点热干燥设计，来确保测试区或者是待测品的干燥，来确保稳定性质。Jing准的压力/温度对照显示，完全符合温湿度压力对照表要求。