集成电路温度冲击试验箱产品详情：

一、高低温区温度范围：高温区部分：+80℃至+200℃  低温区部分：-10℃至-55℃。

二、温度测试范围：高 温：+60℃至+150℃。低 温：0℃至-40℃。

三、控制：+(-)2℃。

四、解析：0.01℃。

五、高温区升温时间：自常温至150℃，约60分钟。

六、低温区降温时间：自常温至 -40℃，约80分钟。

七、测试区温度恢复时间：3-5分钟。

集成电路温度冲击试验箱机器结构与材质：

1.结    构：分为高温区、低温区、测试区。

2.内部尺寸：50cm(w)×40cm(h)×40cm(d)

3.外部尺寸：根椐实际设计定

4.内外箱材质：sus＃304耐热耐寒不锈钢板，光面板。

5.保温材质：高密度玻璃棉及高强度pu发泡绝缘材料。

6.防汗机件：以系统k型管之热能作防汗处理。

7.附属设备：

a.耐寒耐热之高张性迫紧（packing），可耐温400℃及低温-200℃

b.高低温自动转换设备乙套c.附可调式话动盘二只九

集成电路温度冲击试验箱冷冻系统及加热系统：

1.采原装欧美进品效率压缩机。

2.配有自动及手动除霜回路。

3.斜率式fin—tube蒸发器，可迅速达到低温效果。

4.原装进口日制电磁阀、干燥过滤器等冷冻组件。

5.内螺旋式k—type冷媒铜管。

6.高速电热管。

7.采用气冷式冷凝器，或因现场环境因素用水冷式冷凝器。8.采用环保冷媒。9.其它附件修理阀，电子自动转换膨胀阀及电磁开关等。

集成电路温度冲击试验箱送风循环系统及排水系统：

1. 采日制多翼离心式循环风扇，日制马达整组。

2. 送风方式，水平扩散垂直热交换弧形循环。

3. 排水系统采回涡形排水口及u—type积沈装置。

4. 多片翼式扇叶温场效应分布均匀。

5. stain less加长轴心风量适当

集成电路温度冲击试验箱功能简介：

    集成电路温度冲击试验箱采用蓄冷方式，为待测产品静置冷、热交替冲击方式。广泛使用与电子零组件测试、半导体、金属、化工、建材等行业。