电子元器件高频振动试验台

发布时间:2018/8/29 8:38:00

艾思荔电子元器件高频振动试验台控制器的选用搭配提供简易操控,提供水平及垂直扩展平台不同运用,气囊隔离减震装置使振动机无需专用地基,完美再现振动波形及减小振动传输。

电子元器件高频振动试验台技术参数:

高频振动试验.jpg

1、温度范围:(0、-20、-40、-70)~+150℃

2、湿度范围:30~98%RH

3、温度均匀度≤±2.0℃

4、温度波动度≤±0.5℃

5、湿度波动:+2-3%RH

6、降温速率:0.7℃~1℃(空载状态下)

7、升温速率:1~3℃(空载状态下)

8、振动类型:电磁式振动

9、振动频率:2~(100 HZ、200HZ、400HZ、500HZ)

10、振幅:0-5mm

11、振动加速度:0-20Gg

电子元器件高频振动试验台特色:

剑气之悬挂系统与直线运动导向,承载能力强,导向性能好稳定度高

中心负载气囊静刚度大,动刚度小,承载能力强振幅增大瞬时动态表现

高效率DCLASS功率转换,3-Sigma峰值电流,提供优化的功率消耗和小的谐波失真

快速自检诊断及连锁保护,安全可靠度高

电子元器件高频振动试验台执行标准:

GB10586-2006湿热试箱技术条件

GB10589-2006低温试验箱技术条件

GB10592-2006高低温试验箱技术条件

GB11158-2006高温试验箱技术条件

GB/T2423.1-2001试验A:低温试验方法

GB/T2423.2-2001试验B:高温试验方法

GB/T2423.3-1993试验Ca: 恒定湿热试验

GB/T5170.2-1996电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备

GB/T5170.5-1996电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备

GB/T2423.49-1997 、GB/T 2423.48-1997 、GB/T2423.10-1995

电子元器件高频振动试验台概要:

    ES系列振动试验机在实验室条件下模拟振动环境,测试各种振动试验应用领域中的冲击强度和可靠性。在实验室借助振动试验系统可以模拟再现正弦、随机、共振驻留、典型冲击和道路仿真等模式。对于产品的质量保证、新品研发都是必不可少的。