航天高低温冲击试验箱适用于仪器仪表、电工、电子产品、家用电器、汽摩配件、化工涂料、产品及其他相关产品零部件在高温、低温、湿热的环境下贮存、运输、使用时的适应性。高低温老化箱主要用于对产品按照国家标准要求或用户自定要求，在高温、低温、湿热、条件下对产品的物理以及其它相关特性进行环境模拟测试，测试后，通过检测，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便于产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。

    航天高低温冲击试验箱规格：

    测试区尺寸：60㎝×50㎝×50㎝(W×H×D)。大小 可订制

    外箱尺寸：以实际尺寸为准㎝(W×H×D)。

    高低温区温度范围：

    高温区部分：60℃ ～ 200℃。

    低温区部分：－10℃ ～ －70℃。

    测试范围：高溫冲击：60℃～150℃。低溫冲击：－10℃～－55℃。

    升降温速率：

    蓄热区升温时间：自常温至200℃,约40分钟。

    蓄冷区降温时间：自常温至-65℃,约75分钟。

    测试区温度转换时间：≤15秒钟。

    测试区温度恢复时间：≤5分钟（-40℃到85℃）。

    仪表解析：

    温度：0.01℃。

    仪表控制：

    温度：±0.5℃。

    温度：≤±0.5℃。

    温度均匀度：≤2℃。

    温度偏差：≤±2℃。

    航天高低温冲击试验箱执行标准：

    GB10586-2006湿热试验箱技术条件

    GB10589-2006双85湿冷冻试验箱技术条件

    GB10592-2006双85湿冷冻试验箱技术条件

    GB11158-2006高温试验箱技术条件

    GB/T2423.1-2001试验A：低温试验方法

    GB/T2423.2-2001试验B：高温试验方法

    GB/T2423.3-1993试验Ca:恒定湿热试验

    GB/T5170.2-1996电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备

    GB/T5170.5-1996电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备