SigOFIT光隔离探头MOIP1000P

发布时间:2023/7/31 14:18:00

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基本介绍

基于SigOFIT技术的光隔离探头,拥有极高的共模抑制比和隔离电压,在其带宽范围内洞见信号的全部真相,是判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判。此外,SigOFIT光隔离探头采用先进的激光供电技术,完美解决了隔离供电的问题。


应用领域

1.电源设备评估、电流并联测量、EMI 和 ESD 故障排除 

2.电机驱动设计、功率转换器设计 、电子镇流器设计 

3.氮化镓、碳化硅、IGBT 半 / 全桥设备的设计与分析 

4.高压高带宽测试应用的安全隔离测试

5.逆变器、UPS 及开关电源的测试 

6.宽电压、宽带测试应用各种浮地测试


真实的信号呈现

SigOFIT光隔离探头具有极高的共模抑制比,在 100MHz 时 CMRR 高达 112dB、在 500MHz 时 CMRR 仍然高达 100dB,是判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判。


第三代半导体的理想测试手段

第三代半导体器件由于导通与关断时间很短,信号具有更快的上升沿和下降沿,信号中具有很高能量的高频谐波,SigOFIT 光隔离探头在高带宽时,仍然具有近 100dB 的共模抑制比,可以近乎完美地抑制高频共模噪声所产生的震荡,所呈现的信号没有额外多余成分,是第三代半导体测试的不二之选。


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极高的测试精度

作为判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判,测试精度是 SigOFIT 光隔离探头的重要指标。SigOFIT光隔离探头,具有较佳的幅频特性,直流增益精度优于1%,全量程范围内1.41mVrms 底噪,预热后零点漂移小于 500μV。

 

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测试氮化镓(GaN)不炸管

SigOFIT 光隔离探头测试引线短且采用同轴传输,探头输入电容 小于 3pF,测试氮化镓(GaN)十分安全,不同于高压差分探头只可以测试高压信号,SigOFIT 光隔离探头 通过匹配不同的衰减器,可以测试 ±1.25V 至 ±2500V 的差模信号, 并实现满量程输出,达到很高的信噪比。


产品参数

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