芯片电路板EMC分析测试系统

发布时间:2023/12/6 9:05:00

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项目描述

集成电路(IC)的快速发展,体积逐渐向更小更密集的规格演进,且加上IC运行速率的提升和成本的下降,使得IC EMC问题日益受到重视,其中包含IC电磁辐射、电磁抗扰、脉冲抗扰以及EOS失效模拟等测量解决方案逐渐已得到行业广泛应用,东昇射频立足电磁兼容软硬件自动化测量方案开发经验,现已具备完整的针对IC EMC的全套测量解决方案,符合欧洲、美国及日本等标准测试要求,可提供针对手机、电脑、家电等消费类产品IC的EMC测量解决方案。


解决方案覆盖标准范围

IEC61967, 150kHz -1GHz 的IC电磁发射测试

标准项目备注
IEC61967-1通用条件和定义参考 SAE J1752.1
IEC61967-2TEM 小室法参考 SAE J1752.3
IEC61967-3表面扫描法参考 SAE J1752.2
IEC61967-4直接耦合法
IEC61967-5法拉第笼法 WFC
IEC61967-6磁场探头练汪法
IEC61967-8带状线法



IEC62132,150kHz -1GHz 的IC电磁抗扰测试

IEC62132-1通用条件和定义
IEC62132-2TEM 小室法
IEC62132-3大电流注入法 (BCI)
IEC62132-4直接射频功率注入法 (DPI)
IEC62132-5法拉第笼法 (WFC)
IEC62132-8带状线法
IEC62132-9表面扫描法



IEC62215,IC脉冲抗扰测试

IEC 62215-1通用条件和定义
IEC 62215-2同步脉冲注入法
IEC 62215-3随机脉冲注入法


适用范围

各类处理器、记忆芯片、记忆管理芯片、以太网控制器、10控制器 、集成芯片、电源芯片、LED驱动、USB驱动、生物芯片、CMOS、NMOS、PMOS以及各类蓝牙模块、手机模块、通讯模块等