可视化辐射抗扰度诊断分析系统

基本介绍

带无线射频功能的电子产品，除了要解决常规EMC干扰问题外射频电路和天线与产品中各电路走线、功能组件、关键IC和元器件等部件之间，也会发生电磁干扰问题。主要表现为射频相关信号干扰其他部件，导致性能功能的下降或丧失。另外，由于产品布局布线、器件选型不佳等原因，产品内一些器件在工作时产生的无意发射电磁噪声也会干扰到射频电路和天线，导致射频灵敏度指标的下降，从而影响产品的无线性能。以上两类问题的解决，必须要能够基于实际场景评估干扰风险，准确分析关联器件和部件的辐射特性及射频抗扰度特性。可视化辐射抗扰度诊断分析系统可用于对芯片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件和整机进行近场辐射抗扰度故障模拟、自动化测量、可视化呈现、是解决复杂电磁辐射抗扰度问题的有效工具。

产品特点

[高复现]：模拟实际失效场景，采用射频干扰羯合注入方式，极大的提高实际问题的复现几率，方使问题分析

[高精准]：视觉定位和机械手臂联动运行，高精度的定位敏感源位置，方使分析问题源头和失效机理[可量化]准确模拟干扰距离、干扰功率、干扰频率等参数，并建立数据与实际问题现象的对应关系，将问题量化

[可视化]：敏感源的分布可视化呈现，测量结果与实际产品直接对应

[多功能]：可用于板级辐射抗扰度、射频干扰、射频抗扰度等多种复东抗扰度问题的测量与分析。

应用领域

1.芯片、器件、模组件辐射抗扰度(RS)测量与诊断分析

2.射频抗干扰(Desense)测量与诊断分析

3.板级辐射抗扰度(RS)测量与诊断分析

4.射频干扰(RFI)测量与诊断分析

EMI辐射干扰GSM天线可视化分析应用

Camera时钟信号辐射干扰GSM，导致灵敏度问题，在源端增加滤波电路后，辐射下降8dB，问题解决